原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)を用いて周波数変調方式で走査したときの
周波数シフト像をシミュレートします。
量子力学に基づいた計算が行われるので、古典力学的なアプローチによる計算法に比べて、極めて精密なAFM周波数シフト像が得られます。
有機化合物分子の試料の性質を調べるのに適しています。
シミュレーション可能な、探針・試料の構成元素は以下の69種類で、事実上、あらゆる種類の無機・有機化合物のシミュレーションに対応しています。
H, Li, Be, B, C, N, O, F, Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Tc, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, In, Sn, Sb, Te, I, Cs, La, Ce, Ba, Gd, Tb, Dy, Ho, Er, Tm, Yb, W, Re, Ir, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, U